探針卡（probe card）是半導體工藝過程中晶圓測試（wafer test）中被測芯片（chip）和測試機之間的接口，其使用原理是將探針卡上的探針與芯片上的焊墊（pad）或凸塊（bump）直接接觸，導出芯片訊號。再配合周邊測試儀器與軟件控制達到自動化量測晶圓。
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